光学元件垂直度测量影响因素

垂直度检测技术在光学元件制造中的应用案例

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中国科学院取得了光学元件垂直度测量技术的创新成果，该技术的发展将有助于提升光学元件的精准度和性能，对光学行业具有重要意义。

本文介绍了光学元件制造中垂直度误差的校正方法及其应用研究，通过多源协同校正方法提高了光学器件制造的精度和稳定性。

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本文研究了光学元件垂直度误差自动调整系统的稳定性评估方法，通过对系统稳定性影响因素的分析，提出了相应的评估方法，为系统的优化和改进提供了参考依据。